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功率器件 今日: 0|主题: 1480|排名: 14 

  • [晏小北] SiC MOSFET器件BTI及TDDB可靠性研究
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/7CP_0dNR4n6m77r90mr3tg SiC MOSFET器件BTI及TDDB可靠性研究 对比两款商用SiC MOSFET器件在偏压温度不稳定性(BTI)、经时介质击穿(TDDB)可靠性
    00 zyadmin 发表于 2026-1-21 功率器件
  • [晏小北] Infineon沟槽栅SiC MOSFET短路失效机制研究
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/ZXiyyfc5sBfvydvmnsuC4g Infineon沟槽栅SiC MOSFET短路失效机制研究 限制 AT-MOS短路能力的关键因素是与热相关的栅氧化层退化,且沟槽拐角被认为是导致栅极泄漏电流的最脆弱区域
    00 zyadmin 发表于 2026-1-21 功率器件
  • [功率半导体生态圈] 专业推荐!【液冷技术圈】每一个硬件领域,都面临同一场“热”战
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/4-zk2wNuQ1zhnQl3WToI5A 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-1-21 功率器件
  • [晏小北] 宽禁带半导体器件优势之由来
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/TfpsOYS9FXqYfYfJ1KfV-g 宽禁带半导体器件优势之由来 10倍的EC差距,导致1000倍的Ron,sp差距
    00 zyadmin 发表于 2026-1-20 功率器件
  • [碳化硅MOS应用技术分享] SiC MOSFET和肖特基二极管半桥分析开关损耗模型的验证与应用
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/ql1KTDSr7BhHxsVamR0GIQ SiC MOSFET和肖特基二极管半桥分析开关损耗模型的验证与应用 本文验证了一种SiC MOS与二极管半桥的解析开关损耗模型。模型在宽工况下平均误差低于9%,准确性高。研究证实,采用动态测量数据(尤其是栅漏电容与传输特性)可大幅提升精度。同 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-1-20 功率器件
  • [功率半导体生态圈] 专业推荐!【液冷技术圈】每一个硬件领域,都面临同一场“热”战
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/O1Z1YB3lDPMNn1tlX9t3Lw 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-1-20 功率器件
  • [宽禁带半导体观察] SiC缺陷 (8):缺陷对SBD击穿的影响
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/IBeUvvkPKlL7gK0g6SUJFg SiC缺陷 (8):缺陷对SBD击穿的影响 文章分析了SiC器件失效与衬底/外延层中缺陷类型之间的关系,特别关注了存在击穿点的失效器件。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-19 功率器件
  • [晏小北] 零电压开关下,SiC MOSFET器件选用标准
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/DrjD0lF_tLzYH5e26v_erA 零电压开关下,SiC MOSFET器件选用标准 总结ZVS应用的器件选择标准:1)较小的内栅阻, 2)较小的Ciss,3)较大的Coss
    00 zyadmin 发表于 2026-1-19 功率器件
  • [晏小北] 条形、六角及八角元胞27nm SiC MOSFET性能对比
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/EyTUhG7oCQ19P8uGU6h--w 条形、六角及八角元胞27nm SiC MOSFET性能对比 六角元胞的沟道密度和JFET区密度均高于其他几种
    00 zyadmin 发表于 2026-1-19 功率器件
  • [碳化硅MOS应用技术分享] 基于分析开关损耗模型的高压 SiC MOSFET Imax-fsw-dv/dt权衡关系评估
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/UeCkvQVWZiKTAoXk98CipA 基于分析开关损耗模型的高压 SiC MOSFET Imax-fsw-dv/dt权衡关系评估 本文由苏黎世联邦理工学院的Hu与Biela提出,针对高压SiC MOS 3.3-15kV在中等电压变流器中的应用,通过建立一种线性化解析开关损耗模型,系统评估了其最大电流能力Imax-f ...
    00 zyadmin 发表于 2026-1-19 功率器件
  • [功率半导体生态圈] 江苏省重大项目清单出炉,中车、扬杰、英诺赛科、长电等百个半导体项目上榜
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/56rtm1xKD2VDCoteYFJD0A 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-1-19 功率器件
  • [功率半导体生态圈] 专业推荐!【液冷技术圈】每一个硬件领域,都面临同一场“热”战
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/dPZSm3h2JJjhGsNybcOXfQ 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-1-19 功率器件
  • [芯域前沿] 为什么电车、光伏、数据中心都离不开它?大功率器件制造深解
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/7RqgU63Otglrx930eogBww 为什么电车、光伏、数据中心都离不开它?大功率器件制造深解
    00 zyadmin 发表于 2026-1-19 功率器件
  • [功率器件应用学习笔记] SiC MOSFET规格参数中的Rth(j-c)
    SiC MOSFET规格参数中的Rth(j-c) https://mp.weixin.qq.com/s/zbHMd35G2_iLRDsXCp-YvQ
    00 zyadmin 发表于 2026-1-18 功率器件
  • [晏小北] 沟槽栅功率MOSFET制备工艺发展
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/8vIPY872UHi4wgr9Vgh4Iw 沟槽栅功率MOSFET制备工艺发展 在1994年慕尼黑国际电子展,沟槽栅功率MOSFET终于作为商用分立器件推出
    00 zyadmin 发表于 2026-1-18 功率器件
  • [晏小北] 功率MOSFET发展史——替代BJT
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/M8wbqX6qUDnGK-bSf3x7ug 功率MOSFET发展史——替代BJT 驱动功耗极低、控制逻辑兼容、自动均流特性、开关速度更高以及安全工作区更宽,以上五点,导致MOSFET逐渐替代BJT
    00 zyadmin 发表于 2026-1-18 功率器件
  • [宽禁带半导体观察] SiC缺陷 (7):EPI中BPD的转化深度
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/Rh0vrvLSGFDYRw6nDrEiqg SiC缺陷 (7):EPI中BPD的转化深度 SiC衬底中的基晶面位错(BPD)在外延生长过程中95%以上会转化为贯穿型刃位错(TED),这主要归因于能量最低原则和外延生长过程中的应力调整。 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-1-18 功率器件
  • [SiC产学研] 功率模组有限元应力结果怎么分析?
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/mMAyx04H_18GXzGzMGY6JA 今天想聊一个很多人都会遇到的问题:有限元应力结果,到底该怎么看?不少工程师花了大量时间做仿真,模型、网格、工况都很认真,但结果出来后却不知道该重点关注什么。应力张量、最大主应力、最小主应力、最大剪应力、von Mises 等效应力…… ...
    00 zyadmin 发表于 2026-1-18 功率器件
  • [功率半导体器件] 三菱电机近日发布4款全新沟槽SiC MOSFET Bare Die
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/wPBbL3V6o7-JboNO7fs_ww 三菱电机近日发布4款全新沟槽SiC MOSFET Bare Die 日前,三菱电机发布了四款新型沟槽型SiC MOSFET裸芯片样品,其可用于如电动汽车EV主驱逆变器、车载充电器
    00 zyadmin 发表于 2026-1-17 功率器件
  • [国产碳化硅] 技术破局 | 从器件到应用如何解决爬电距离问题?国产3300V SiC MOS如何应对?
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/ckqkWGIJbH_mPK2Db9uwjA 技术破局 | 从器件到应用如何解决爬电距离问题?国产3300V SiC MOS如何应对? 技术破局 | 从器件到应用如何解决爬电距离问题?国产3300V SiC MOS如何应对?
    00 zyadmin 发表于 2026-1-16 功率器件
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