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封装测试 今日: 0|主题: 741|排名: 17 

  • [功率半导体生态圈] 混合键合技术的挑战与发展趋势
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/ttYZBUldtNibJSIiF35HFQ 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-6-11 封装测试
  • [AMHS们798] 半导体 Fab 无尘室「洁净度」全解:标准?前道/后道/先进封装怎么区分?AMHS 怎么达标?(附常见坑)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/bLDwoqpKKv_kXqzYFZegLQ 半导体 Fab 无尘室「洁净度」全解:标准?前道/后道/先进封装怎么区分?AMHS 怎么达标?(附常见坑)
    00 zyadmin 发表于 2026-6-11 封装测试
  • [功率半导体器件] IGBT器件的失效分析
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/P4ebmhWaam8tDsVyaHNuEg IGBT器件的失效分析 实际应用中,IGBT的失效主要有过电压失效、过电流失效和过热失效。
    00 zyadmin 发表于 2026-6-11 封装测试
  • [芯联汇] 先进封装热管理迎来突破:锁相热成像实现Hybrid Bonding界面热阻直接测量
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/qYcZqB156t_ua0IJyE9dBg 先进封装热管理迎来突破:锁相热成像实现Hybrid Bonding界面热阻直接测量
    00 zyadmin 发表于 2026-6-11 封装测试
  • [芯联汇] AI光互联进入CPO时代:半导体先进封装与COUPE引领新一轮产业变革
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/1d8nHpUyBmPGudlb5D3UiA AI光互联进入CPO时代:半导体先进封装与COUPE引领新一轮产业变革
    00 zyadmin 发表于 2026-6-11 封装测试
  • [芯途小栈 Chip Starter] 芯片报废还是合格,晶圆测试说了算
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/F2MnlHOhm0xKLRvu_yoP8Q 芯片报废还是合格,晶圆测试说了算 一颗芯片在封装之前, 必须经历一次关键“考试”——晶圆测试(Wafer Test)。 它的核心任务只有一个: 🔍 提前找出“坏芯片”。 通过探针台与测试机, 工程师会对晶圆上的每一颗Die进行电学性能检测, ...
    00 zyadmin 发表于 2026-6-11 封装测试
  • [锐芯闻] 台湾阳明交大&台积电:测试EUV 光刻掩模保护膜的实验平台搭建
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/cR9RKFSczLlrD6zSrjKYSw 台湾阳明交大&台积电:测试EUV 光刻掩模保护膜的实验平台搭建
    00 zyadmin 发表于 2026-6-11 封装测试
  • [半导体行业前沿] 【转发收藏】先进封装破解芯片五大难题及技术演进深度报告!
    【转发收藏】先进封装破解芯片五大难题及技术演进深度报告! https://mp.weixin.qq.com/s/xf8HSH5ylrGwR8xI-FSy1w 摘要:由于半导体行业体系庞大,理论知识繁杂,我们将通过多个期次和专题进行全面整理讲解。
    00 zyadmin 发表于 2026-6-11 封装测试
  • [功率半导体生态圈] ULVAC,如何利用等离子体提高晶圆的键合强度?
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/Yrn4yT7QM3YU8XFfIQEW8w 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-6-10 封装测试
  • [芯联汇] Intel 18A可靠性首次公开:RibbonFET、PowerVia与GAA老化机制全解析
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/2xudaUvOe-VIIop-l5J1Fg Intel 18A可靠性首次公开:RibbonFET、PowerVia与GAA老化机制全解析
    00 zyadmin 发表于 2026-6-10 封装测试
  • [李傲谈芯] 从 CP 到 FT:ATE 测试原理通俗拆解
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/sStQu9S_vrq23pFNzCJV9A 从 CP 到 FT:ATE 测试原理通俗拆解 做 Fab多年,不管是 PIE 跟进 CP 良率、Module 盯封装异常,还是器件工程师做芯片电性验证,天天绕不开 ATE。很多新人只知道 ATE 用来测芯片分 P/F,却不清楚整套设备靠什么原理实现参数、功能校验,今天 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-6-10 封装测试
  • [功率半导体生态圈] 芯片行业的重心正从晶圆转向封装
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/1MppXRhlVea88HVwtigl2w 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-6-9 封装测试
  • [功率半导体生态圈] EVG,为先进封装省去玻璃基板 !
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/Xw_5iDXS1CUYZD1kDx-4nQ 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-6-8 封装测试
  • [晏小北] 2000V/40A 四相升压SiC功率模块
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/Nh5IryylOy0qyBlgjXVAWg 2000V/40A 四相升压SiC功率模块 瞻芯电子(Inventchip Technology)发布 IV3B20023BA2, 3B封装四相升压模块,每相由 2000V/23mΩ SiC MOSFET + 40A 快恢复二极管构成升压拓扑,面向1500V 光伏储能逆变器应用。 四相电路分为两组电气隔离单 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-6-8 封装测试
  • [李傲谈芯] CP测试必看:SCAN测试原理
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/2lypwMYA3t9BzUnD10X6sg CP测试必看:SCAN测试原理 在Fab里面从事工艺开发的工程师,不管是PDE, PIE, 还是Module都会接触到芯片良率,也就是CP测试报告:在报告里经常看到CHAIN、STUCK、TRANS等等这些项目Fail,到底是什么意思?为什么有的Fail要直接判死,有的还能 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-6-8 封装测试
  • [锐芯闻] 3D 封装与芯片冷却系统:AI热工程的下一个前沿
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/tiYacsOnKRAKc-44Ep9K8A 3D 封装与芯片冷却系统:AI热工程的下一个前沿
    00 zyadmin 发表于 2026-6-7 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 芯片封装塑封机台全系列详解
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/zbeFjPSRdf6kwtHwBHp92w 芯片封装塑封机台全系列详解
    00 zyadmin 发表于 2026-6-6 封装测试
  • [中南微电人] 玻璃基板为什么突然成了先进封装的新变量
    玻璃基板为什么突然成了先进封装的新变量 https://mp.weixin.qq.com/s/veKY89morqA9EX3QBle_8Q 玻璃基板重新受到关注,背后是先进封装尺寸、互连密度和高速信号压力一起上升。它带来新的底座选择,也带来 TGV、裂纹、翘曲、加工良率和设备体系的考验。 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-6-4 封装测试
  • [晏小北] CPAK-EDC封装1200V/300A IGBT模块
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/KmlRQI7cPKDXoWtewi_cxQ CPAK-EDC封装1200V/300A IGBT模块 CISSOID推出CMT-PLA1BL12300MA型号产品,1200V/300A半桥IGBT功率模块,采用工业标准CPAK-EDC封装,具备更高的机械强度, 该产品专为高频开关和高性能工业应用设计,适用于不间断电源系统、电机与运动控制解 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-6-4 封装测试
  • [芯域前沿] RDL+BSPDN+On-Top of CMOS:后摩尔时代的“三把刀”
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/uhUNMRLnG5SGMTvUDN311Q RDL+BSPDN+On-Top of CMOS:后摩尔时代的“三把刀”
    00 zyadmin 发表于 2026-6-4 封装测试
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