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封装测试 今日: 0|主题: 741|排名: 17 

  • [锐芯闻] 英特尔首发10-2-10厚玻璃核心基板 + EMIB 封装方案,为AI算力突破铺路
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/1HhX5WzV-YyU5rgAdoau4Q 英特尔首发10-2-10厚玻璃核心基板 + EMIB 封装方案,为AI算力突破铺路
    00 zyadmin 发表于 2026-1-28 封装测试
  • [元器件封装测试之友] Underfill胶水介绍--底部填充胶
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/5zzChy6-K2oTTWx-uv4N4w Underfill胶水介绍--底部填充胶
    00 zyadmin 发表于 2026-1-27 封装测试
  • [半导体行业前沿] 【强烈推荐】最新先进封装研究报告60页-附下载
    【强烈推荐】最新先进封装研究报告60页-附下载 https://mp.weixin.qq.com/s/aCUuHw6qHgfTdkMvixiMUw 摘要:由于半导体行业体系庞大,理论知识繁杂,我们将通过多个期次和专题进行全面整理讲解。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-27 封装测试
  • [元器件封装测试之友] Flux助焊剂介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/VXnE_Q1mD3F3eQmNv-zLpQ Flux助焊剂介绍 一,Flux(助焊剂)介绍: Flux是电子焊接和金属连接工艺中的关键化学材料,用于促进焊接过程并
    00 zyadmin 发表于 2026-1-26 封装测试
  • [晏小北] TO-263-7封装对SiC MOSFET开关损耗的降低
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/Tny4jMeSVMOkj6jyB8smWw TO-263-7封装对SiC MOSFET开关损耗的降低 通过引入KS电极,将驱动源和功率源分离,避免源极寄生电感产生的感应电动势对驱动电路产生影响
    00 zyadmin 发表于 2026-1-26 封装测试
  • [元器件封装测试之友] BGA封装中阻焊层介绍--solder mask
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/UNWuczwJ6w3qrw9AOOIxSg BGA封装中阻焊层介绍--solder mask 一,阻焊层的定义: 阻焊层(SR,solder mask),也称为 绿油,是印刷电路板上一层薄薄的聚
    00 zyadmin 发表于 2026-1-24 封装测试
  • [功率半导体生态圈] 薄界面异质异构晶圆键合技术研究现状及趋势
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/PEE6XQ079JQwUFjNVxMpYQ 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-1-23 封装测试
  • [芯域前沿] 先进制程与先进封装“双线加速”:2026年1月中旬半导体大事记
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/n600OvF-8Dl6ILXssCqq2A 先进制程与先进封装“双线加速”:2026年1月中旬半导体大事记 从7932亿美元到“破万亿”:2026开年国内外半导体新闻全景01市场“开年定调”:2025冲到7932亿美元 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-1-23 封装测试
  • [元器件封装测试之友] BGA封装常见典型不良
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/z_v_DrTzeAD3Y373R4QAlQ BGA封装常见典型不良 BGA封装技术虽然先进且高性能,但在制造、组装和服役过程中也存在一些典型的不良模式。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-23 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 锡须生长介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/Kke3cX6ntGJo7lY7oQYanA 锡须生长介绍 一,锡须的定义锡须是一种从纯锡或高锡含量合金(如锡镀层)表面自发生长出的、细长如胡须般的单晶纤维状结构。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-22 封装测试
  • [Fab那些事] Plasma Induced Damage (PID)介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/u0rixHmGlgZm8SoerJm0zw PID 是半导体制程中一种常见的物理损伤,本文简单介绍了PID的产生机理、测试思路和改善策略。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-22 封装测试
  • [功率半导体社] MOSFET静电放电(ESD)测试及失效解读
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/m9Qw7YCaTN1m3-_ryy6JCg 什么是ESD?ESD测试原理及失效机理。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-21 封装测试
  • [中南微电人] 复现论文→提出新问题→解决→表达:如何通过课程教学训练工程能力?
    复现论文→提出新问题→解决→表达:如何通过课程教学训练工程能力? https://mp.weixin.qq.com/s/YhZJ2vjZ2jPhYtl6MwBVRQ 下学期,笔者将为微电子本科生开设一门专业课程——《微电子封装工程》。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-21 封装测试
  • [中南微电人] 单芯片FCBGA封装翘曲仿真操作说明
    单芯片FCBGA封装翘曲仿真操作说明 https://mp.weixin.qq.com/s/JoGYDX_sn0vdNKmpRgeslA 本操作说明旨在使用 ANSYS 2022R1 Workbench 对单颗 FCBGA(Flip Chip Ba
    00 zyadmin 发表于 2026-1-20 封装测试
  • [芯片揭秘] 第487期 | 为何说探针卡是芯片良率的 “生死判官”?揭秘芯卓国产替代背后的 20 年卧薪尝胆
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/6mAbpRE4Iup35opo567LcQ 第487期 | 为何说探针卡是芯片良率的 “生死判官”?揭秘芯卓国产替代背后的 20 年卧薪尝胆 本土企业如何聚焦技术、整合生态,在半导体测试上取得实质性突破? ...
    00 zyadmin 发表于 2026-1-20 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 先进封装技术介绍--FOPLP(扇出面板级封装)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/-m0g49LP5_89lxI4A9rWDA 先进封装技术介绍--FOPLP(扇出面板级封装)
    00 zyadmin 发表于 2026-1-20 封装测试
  • [半导体行业前沿] 先进封装和传统封装你了解几个?
    先进封装和传统封装你了解几个? https://mp.weixin.qq.com/s/qly3KkGmo5_2gzGPPMgVOg 摘要:由于半导体行业体系庞大,理论知识繁杂,我们将通过多个期次和专题进行全面整理讲解。本专题主要从先进封装和传统封装你了解几个?
    00 zyadmin 发表于 2026-1-19 封装测试
  • [半导体工程师萧威] 芯片“退烧”成功?困扰手机20年的发烫难题,竟被一张薄膜解决了!
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/WifsWUqIiwLUAS23Jq5-FQ 芯片“退烧”成功?困扰手机20年的发烫难题,竟被一张薄膜解决了!
    00 zyadmin 发表于 2026-1-19 封装测试
  • [功率半导体生态圈] 半导体晶圆键合力控制技术的研究进展与挑战
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/q9FuQD5NkNs5vh6d1mlf3w 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-1-19 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 塑封料与产品翘曲探讨
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/xTA_d0ulcS42cX5aLOwWOQ 塑封料与产品翘曲探讨 一,产品翘曲的定义与测量:理解翘曲标准的两个关键点:1,定义方式:翘曲度通常定义为 “弓曲” 或 “扭曲”。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-17 封装测试
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