[半导体行业前沿] 【万字长文】CPO(光电共封装) 看懂这一篇足够了-附PDF
【万字长文】CPO(光电共封装) 看懂这一篇足够了-附PDF
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摘要:由于半导体行业体系庞大,理论知识繁杂,我们将通过多个期次和专题进行全面整理讲解。
[半导体技术前沿] 三极管入门全攻略:从结构原理到测试选型,一篇讲透这个不起眼的“电路主角”
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小明拆开坏掉的遥控器,发现里面有几个黑色的小方块,只有三只脚。师傅说这叫''三极管'',是电子电路的''万能开关''。
[元器件封装测试之友] 焊盘Pad:芯片对外的“接口插座”
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焊盘Pad:芯片对外的“接口插座”
芯片内部有密密麻麻的晶体管、金属连线、介质层,但所有电路都封闭在晶圆内部。想要和外部世界通信、供电、传输信号,就必须有对外接口。 ...
[国产碳化硅] QDPAK封装 | 功率封装新物种:QDPAK封装如何重塑SiC MOSFET的性能极限?
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QDPAK封装 | 功率封装新物种:QDPAK封装如何重塑SiC MOSFET的性能极限?
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[芯域前沿] 芯片IDDQ(静态电源电流)测试
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芯片IDDQ(静态电源电流)测试
芯片不说话,但电流会“告密”:半导体制造里的 IDDQ 测试到底在抓什么?
[晏小北] 英飞凌SiC MOSFET器件筛选研究
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英飞凌SiC MOSFET器件筛选研究
Infineon采用远厚于本征寿命目标所需厚度的栅氧化层,以实现高栅压筛选
[Jeff的芯片世界] Chiplet技术是什么?
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Chiplet技术是什么?
[元器件封装测试之友] 封装对射频器件信号的影响
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封装对射频器件信号的影响
在无线通信、微波射频、车载雷达等领域,射频器件的性能不仅取决于芯片裸片本身,封装结构往往决定最终整机指标的上
[李傲谈芯] CP测试必看|DC测试原理拆解+实战案例
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CP测试必看|DC测试原理拆解+实战案例
在半导体芯片测试流程中,CP测试是筛选坏片、控制成本的第一道关卡。而DC测试(直流测试)作为CP测试的“前置体检”,更是重中之重——它不需要复杂的高频信号,仅通过静态直流信号,就能快速揪出芯片的 ...
[元器件封装测试之友] 闩锁效应LU测试与防护方法
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闩锁效应LU测试与防护方法
在半导体芯片可靠性测试中,闩锁效应(Latch-up,LU) 是CMOS器件最致命的隐性风险。
[锐芯闻] 详解异构集成:混合键合如何支撑2.5D/3D IC?关键挑战是什么?
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详解异构集成:混合键合如何支撑2.5D/3D IC?关键挑战是什么?
[元器件封装测试之友] 封装分层失效判断方法与彻底改善方案
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封装分层失效判断方法与彻底改善方案
在半导体元器件封装制程与可靠性测试中,封装分层是最常见、危害最大的隐性失效。
[功率半导体器件] 华北电力大学/怀柔实验室:Cu片夹扣键合和Al线键合对SiC MOSFET第三象限浪涌电流能力的影响
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华北电力大学/怀柔实验室:Cu片夹扣键合和Al线键合对SiC MOSFET第三象限浪涌电流能力的影响
在相同的测试条件下,Cu片夹扣封装达不到Al线键合封装的浪涌能力。进一步建立一个电热耦合的模型,研究了芯片在浪涌状态下的温度和电流分布,阐述 ...
[李傲谈芯] 【CP测试】芯片的“第一道安检”——OS/PS测试原理详解
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【CP测试】芯片的“第一道安检”——OS/PS测试原理详解
在所有CP测试项目中,有一项测试永远是排在第一位的,堪称芯片的“心电图”——那就是 OS(Open/Short Test,开短路测试) 以及其衍生项目 PS(Power Short Test,电源短路测试)。 ...
[芯域前沿] 银胶烘焙(Epoxy Curing,环氧固化)工艺简介
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银胶烘焙(Epoxy Curing,环氧固化)工艺简介
银胶不是“烤干”那么简单:半导体银胶烘焙(Epoxy Curing,环氧固化)科普硬核版在半导体封装(Pack
[元器件封装测试之友] QFN封装爬锡不良与锡珠问题根治方案
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QFN封装爬锡不良与锡珠问题根治方案
在元器件封装制程中,QFN封装凭借体积小、散热好、寄生参数低的优势,大量应用于电源管理、车载芯片、工业控制领域 ...
[芯片揭秘] 第500期 | HBM引爆晶圆键合!一位CTO的复盘与预言
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第500期 | HBM引爆晶圆键合!一位CTO的复盘与预言
键合技术,正在改写芯片的物理极限。
[三代半食堂] APEC 2026 系列技术解读|封装,正在成为 AI 数据中心供电的主战场
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APEC 2026,San Antonio。近 1300 份演讲材料与论文,五天议程,功率电子行业一年一度最密集的信息轰炸。
[元器件封装测试之友] 玻璃基板TGV工艺原理与良率难点解析
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玻璃基板TGV工艺原理与良率难点解析
随着AI大算力、HBM高带宽需求爆发,硅中介层TSV成本高、尺寸受限的短板越来越明显。
[晏小北] 英飞凌第一代SiC JFET产品
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英飞凌第一代SiC JFET产品
英飞凌第一代CoolSiCTM JFET产品采用QDPAK封装,通过最小化温升、解决界面问题,充分发挥SiC JFET优势,支撑大电流固态配电设计