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封装测试 今日: 0|主题: 1053|排名: 18 

  • [中南微电人] Blackwell 的物理焦虑:当算力撞上热力学与电磁场的“铜墙铁壁”
    Blackwell 的物理焦虑:当算力撞上热力学与电磁场的“铜墙铁壁” https://mp.weixin.qq.com/s/BNgC7NBmbzJ7XFVJhhwpeg 别只盯着 20 PFLOPS 的算力看了,Blackwell 真正的战场在电磁场、热力学和机械应力。这不仅是 NVIDIA 的良率危机,更是全行业挑战物理极限的“第一次亲密接触”。 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-4-20 封装测试
  • [半导体工程师萧威] 先进封装:当AI芯片堆成摩天大楼,算力极限如何被打破?
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/_qaPihRsnDsU8Kcf4Entaw 先进封装:当AI芯片堆成摩天大楼,算力极限如何被打破? 点击蓝字,关注我们打破摩尔定律的“天花板”:先进封装如何让AI芯片突破极限?当晶体管的尺寸微缩逼近物理极限, ...
    00 zyadmin 发表于 2026-4-20 封装测试
  • [晏小北] 罗姆2in1 SiC塑封模块
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/CoXBOA5bcdEaCTKOOorjoA 罗姆2in1 SiC塑封模块 罗姆推出2in1 SiC塑封模块,称之为“DOT-247”, DOT-247采用双TO-247封装合并结构,可容纳传统TO-247封装难以承受的大尺寸芯片, 这玩意也可以理解成一种新的封装形式,从图片看得很清楚,类似两只TO-247封装器件并 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-4-20 封装测试
  • [元器件封装测试之友] ESD静电测试HBM/MM/CDM区别
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/lnIkgWzcLc2Gvtbsu2YGIA ESD静电测试HBM/MM/CDM区别 在元器件封装与可靠性测试中,ESD(静电放电)是必测项目,也是车规芯片AEC-Q100的关键项。
    00 zyadmin 发表于 2026-4-20 封装测试
  • [元器件封装测试之友] BGA虚焊 空洞 偏位8大原因+现场改善方案
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/aCPst4QR7Mx-qnKq0ipHqA BGA虚焊 空洞 偏位8大原因+现场改善方案 BGA焊接缺陷(虚焊、空洞、偏位)是SMT行业的老大难问题。这三类缺陷往往相互关联——比如温度曲线不当既可能导致空洞,也可能因板弯板翘引发虚焊(枕头效应)。 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-4-18 封装测试
  • [功率半导体生态圈] 一图看懂半导体先进封装技术
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/NMX6RZIVGvguBAjVoUHYHw 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-4-17 封装测试
  • [功率半导体生态圈] 新型功率模块封装中纳米银低温烧结技术的研究进展
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/hTyyWTkKap4rdoUQmQZr8Q 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-4-16 封装测试
  • [芯域前沿] 半导体可靠性测试:V-ramp与J-ramp斜坡测试技术
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/CHB33iuzXcRvwjttIgeV7Q 半导体可靠性测试:V-ramp与J-ramp斜坡测试技术
    00 zyadmin 发表于 2026-4-16 封装测试
  • [李傲谈芯] CP测试必看|DC测试原理拆解+实战案例
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/rnWBdFQf9FKK1t-Y47l5Tg CP测试必看|DC测试原理拆解+实战案例 在半导体芯片测试流程中,CP测试(Chip Probing, 晶圆探针测试) 是筛选坏片、控制成本的第一道关卡
    00 zyadmin 发表于 2026-4-15 封装测试
  • [锐芯闻] 100nm 芯片 - 晶圆混合键合技术,驱动半导体代工 2.0 转型
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/42KK7bLFYr0CHmgbc6xF0g 100nm 芯片 - 晶圆混合键合技术,驱动半导体代工 2.0 转型
    00 zyadmin 发表于 2026-4-15 封装测试
  • [功率半导体生态圈] 功率器件封装纳米浆料材料与低温烧结工艺及机理研究进展
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/_IFaw7TIjPH4FMPmo-Kx4A 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-4-14 封装测试
  • [半导体先进技术与仿真] 先进封装技术(Semiconductor Advanced Packaging) - 45 一文看懂:先进半导体封装中的物理...
    先进封装技术(Semiconductor Advanced Packaging) - 45 一文看懂:先进半导体封装中的物理气相沉积(PVD) https://mp.weixin.qq.com/s/dqT4THXriOXGxIvKUoHufQ 物理气相沉积(PVD)作为微电子制造与先进封装领域的核心薄膜制备技术,凭借高纯度、高精度、材料适应性广等优势,在互连结构、阻挡层、重布线层、硅通孔金属化 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-4-14 封装测试
  • [芯域前沿] TSV/TGV集成全景科普
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/oeGg6E5TrUlX8ppKF3n51A TSV/TGV集成全景科普
    00 zyadmin 发表于 2026-4-14 封装测试
  • [李傲谈芯] 【CP测试】芯片的“第一道安检”——OS/PS测试原理详解
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/j7McbFxfJQyO4uKBjkMmbA 【CP测试】芯片的“第一道安检”——OS/PS测试原理详解 在所有CP测试项目中,有一项测试永远是排在第一位的,堪称芯片的“心电图”——那就是 OS(Open/Short Test,开短路测试) 以及其衍生项目 PS(Power Short Test,电源短路测试)。 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-4-13 封装测试
  • [芯域前沿] 半导体贴片(Die Attach)工艺简介
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/1tdIK6lKT89dCtq7Xf_YVQ 半导体贴片(Die Attach)工艺简介 不只是“粘上去”:决定芯片散热、寿命与良率的Die Attach,到底难在哪?
    00 zyadmin 发表于 2026-4-13 封装测试
  • [锐芯闻] 台湾刘炯朗:共封装光学的演进及下一代封装技术
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/U4v3gBf3kepFESg60dMP5w 台湾刘炯朗:共封装光学的演进及下一代封装技术
    00 zyadmin 发表于 2026-4-12 封装测试
  • [晏小北] 4款新产品速递——2in1 SiC塑封模块
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/yY1TpqDicTdnA4b_WZxzFw 4款新产品速递——2in1 SiC塑封模块 介绍英飞凌、ROHM等公司近期推出的4种产品
    00 zyadmin 发表于 2026-4-11 封装测试
  • [李傲谈芯] CP测试必知:SOF与COF,你选对了吗?
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/Gawv-AnMuPUg66kdGlVliw CP测试必知:SOF与COF,你选对了吗? 量产提效选SOF,研发分析用COF,混合搭配才是真高手。
    00 zyadmin 发表于 2026-4-10 封装测试
  • [锐芯闻] 四种关键的光学架构:共封装光学(CPO)是终极方案
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/okT5Ww2L24_cns-rIW0yyg 四种关键的光学架构:共封装光学(CPO)是终极方案
    00 zyadmin 发表于 2026-4-10 封装测试
  • [锐芯闻] CoWoS 与 “散热死局”:温控水平对先进封装的重要性!
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/OSOwS2XWAbUibOEobCggIw CoWoS 与 “散热死局”:温控水平对先进封装的重要性!
    00 zyadmin 发表于 2026-4-9 封装测试
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