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封装测试 今日: 0|主题: 1053|排名: 18 

  • [元器件封装测试之友] BGA封装常见典型不良
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/z_v_DrTzeAD3Y373R4QAlQ BGA封装常见典型不良 BGA封装技术虽然先进且高性能,但在制造、组装和服役过程中也存在一些典型的不良模式。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-23 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 锡须生长介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/Kke3cX6ntGJo7lY7oQYanA 锡须生长介绍 一,锡须的定义锡须是一种从纯锡或高锡含量合金(如锡镀层)表面自发生长出的、细长如胡须般的单晶纤维状结构。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-22 封装测试
  • [Fab那些事] Plasma Induced Damage (PID)介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/u0rixHmGlgZm8SoerJm0zw PID 是半导体制程中一种常见的物理损伤,本文简单介绍了PID的产生机理、测试思路和改善策略。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-22 封装测试
  • [功率半导体社] MOSFET静电放电(ESD)测试及失效解读
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/m9Qw7YCaTN1m3-_ryy6JCg 什么是ESD?ESD测试原理及失效机理。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-21 封装测试
  • [中南微电人] 复现论文→提出新问题→解决→表达:如何通过课程教学训练工程能力?
    复现论文→提出新问题→解决→表达:如何通过课程教学训练工程能力? https://mp.weixin.qq.com/s/YhZJ2vjZ2jPhYtl6MwBVRQ 下学期,笔者将为微电子本科生开设一门专业课程——《微电子封装工程》。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-21 封装测试
  • [中南微电人] 单芯片FCBGA封装翘曲仿真操作说明
    单芯片FCBGA封装翘曲仿真操作说明 https://mp.weixin.qq.com/s/JoGYDX_sn0vdNKmpRgeslA 本操作说明旨在使用 ANSYS 2022R1 Workbench 对单颗 FCBGA(Flip Chip Ba
    00 zyadmin 发表于 2026-1-20 封装测试
  • [芯片揭秘] 第487期 | 为何说探针卡是芯片良率的 “生死判官”?揭秘芯卓国产替代背后的 20 年卧薪尝胆
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/6mAbpRE4Iup35opo567LcQ 第487期 | 为何说探针卡是芯片良率的 “生死判官”?揭秘芯卓国产替代背后的 20 年卧薪尝胆 本土企业如何聚焦技术、整合生态,在半导体测试上取得实质性突破? ...
    00 zyadmin 发表于 2026-1-20 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 先进封装技术介绍--FOPLP(扇出面板级封装)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/-m0g49LP5_89lxI4A9rWDA 先进封装技术介绍--FOPLP(扇出面板级封装)
    00 zyadmin 发表于 2026-1-20 封装测试
  • [半导体行业前沿] 先进封装和传统封装你了解几个?
    先进封装和传统封装你了解几个? https://mp.weixin.qq.com/s/qly3KkGmo5_2gzGPPMgVOg 摘要:由于半导体行业体系庞大,理论知识繁杂,我们将通过多个期次和专题进行全面整理讲解。本专题主要从先进封装和传统封装你了解几个?
    00 zyadmin 发表于 2026-1-19 封装测试
  • [半导体工程师萧威] 芯片“退烧”成功?困扰手机20年的发烫难题,竟被一张薄膜解决了!
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/WifsWUqIiwLUAS23Jq5-FQ 芯片“退烧”成功?困扰手机20年的发烫难题,竟被一张薄膜解决了!
    00 zyadmin 发表于 2026-1-19 封装测试
  • [功率半导体生态圈] 半导体晶圆键合力控制技术的研究进展与挑战
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/q9FuQD5NkNs5vh6d1mlf3w 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-1-19 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 塑封料与产品翘曲探讨
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/xTA_d0ulcS42cX5aLOwWOQ 塑封料与产品翘曲探讨 一,产品翘曲的定义与测量:理解翘曲标准的两个关键点:1,定义方式:翘曲度通常定义为 “弓曲” 或 “扭曲”。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-17 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 先进封装技术介绍--高带宽架构(HBF,High Bandwidth Fabrics)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/98J0aqFrjCEmX4AdTiydSA 先进封装技术介绍--高带宽架构(HBF,High Bandwidth Fabrics) 一,HBF高带宽架构工艺定义: HBF 是 High Bandwidth Fabrics 的缩写,
    00 zyadmin 发表于 2026-1-16 封装测试
  • [功率半导体生态圈] 先进封装:100页PPT详解传统工艺升级&先进封装技术
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/YXTAF4hCZj5WBNVYVkTuCg 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-1-16 封装测试
  • [功率半导体生态圈] 功率半导体封装技术演进:从传统封装到三维集成的创新之路
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/OVi962pKxgYCoNRJtS-_YA 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-1-15 封装测试
  • [功率半导体生态圈] 大尺寸功能晶圆临时键合与减薄
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/OHThpwqJIimMDIKMsAW20w 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-1-15 封装测试
  • [半导体工程师萧威] 故障率降一半,折叠屏偷偷升级了啥?看完恍然大悟
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/gm81coKt6UF4YBHh-J8b3g 故障率降一半,折叠屏偷偷升级了啥?看完恍然大悟
    00 zyadmin 发表于 2026-1-15 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 先进封装工艺介绍--TMV(Through Mold Via)塑封通孔
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/a31nYPZOE41ufCFzJeNMiQ 先进封装工艺介绍--TMV(Through Mold Via)塑封通孔 一,Through Mold Via塑封通孔工艺定义: TMV,全称为Through Mold Vi
    00 zyadmin 发表于 2026-1-15 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 先进封装工艺介绍--TGV(Through Glass Via玻璃通孔)技术
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/M-vC-t5UC0YZp0vDDjThYg 先进封装工艺介绍--TGV(Through Glass Via玻璃通孔)技术
    00 zyadmin 发表于 2026-1-14 封装测试
  • [晏小北] SiC MOSFET抗辐射及功率循环能力
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/jVCNx6rqWu4VHLYSYwl-2Q SiC MOSFET抗辐射及功率循环能力 相同故障率要求下,IGBT必须大幅降额使用,而SiC MOSFET能以明显更高的漏压使用
    00 zyadmin 发表于 2026-1-13 封装测试
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