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封装测试 今日: 0|主题: 1053|排名: 18 

  • [元器件封装测试之友] 先进封装工艺介绍--凸块(Bumping)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/IJt8ccLxwRBb1DylxE2NKw 先进封装工艺介绍--凸块(Bumping) 一,Bumping工艺定义: Bumping 是指在半导体芯片的I/O焊盘上,通过一系列晶圆级工艺,制
    00 zyadmin 发表于 2026-1-13 封装测试
  • [半导体工程师萧威] 台积电一出手,显卡性能暴涨的真相,原来是这么回事!
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/oSnn3EovIuM7_GzWsT8hdQ 台积电一出手,显卡性能暴涨的真相,原来是这么回事!
    00 zyadmin 发表于 2026-1-12 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 先进封装工艺介绍--凸点下金属化层 (Under Bump Metallization)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/s9tq6q2q1rpxQ2q7wDkMEw 先进封装工艺介绍--凸点下金属化层 (Under Bump Metallization) 凸点下金属化层 (UBM,Under Bump Metallization)
    01 zyadmin 发表于 2026-1-12 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 先进封装工艺介绍--扇入型晶圆级封装(Fan-in Wafer-Level Packaging)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/Dt2jhaZp-9Em048SQCem2g 先进封装工艺介绍--扇入型晶圆级封装(Fan-in Wafer-Level Packaging)
    00 zyadmin 发表于 2026-1-11 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 先进封装工艺介绍--扇出型晶圆级封装(Fan-out Wafer-Level Packaging)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/kJD7FqX01lNDSfG6lM9ung 先进封装工艺介绍--扇出型晶圆级封装(Fan-out Wafer-Level Packaging)
    00 zyadmin 发表于 2026-1-10 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 先进封装工艺介绍--RDL(Redistribution Layer重新布线层)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/NZ1UEdS_Si3jy5CnFw58yg 先进封装工艺介绍--RDL(Redistribution Layer重新布线层) 一,RDL(Redistribution Layer重新布线层)的定义: RDL(Redistri
    00 zyadmin 发表于 2026-1-9 封装测试
  • [功率半导体生态圈] 有机材质晶圆高精度 Wafer-to-Wafer组装与热压键合工艺优化研究
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/Zev7QyI6UHwmwRqxGlsd3w 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-1-8 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 先进封装工艺介绍--3D封装(三维集成电路封装技术)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/7qjLmMoR8-r6e90R62wuXQ 先进封装工艺介绍--3D封装(三维集成电路封装技术)
    00 zyadmin 发表于 2026-1-8 封装测试
  • [国产碳化硅] 材料工艺 | 碳化硅功率模块封装材料、参数特性、对仿真的影响
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/5cUd7-DIavEbQsW5ZzbhXw 材料工艺 | 碳化硅功率模块封装材料、参数特性、对仿真的影响 材料工艺 | 碳化硅功率模块封装材料、参数特性、对仿真的影响
    00 zyadmin 发表于 2026-1-7 封装测试
  • [功率半导体生态圈] 封装键合点对IGBTUIS失效的影响研究
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/GL1dFaiCmc-Vh2oAWKkevA 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-1-7 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 先进封装工艺介绍--2.5D(2.5 Dimensional基于硅中介层(或硅桥)的二维半三维系统级封装)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/uNDxeukSEKm_YmTN99nSAQ 先进封装工艺介绍--2.5D(2.5 Dimensional基于硅中介层(或硅桥)的二维半三维系统级封装) 一,2.5D封装的定义: 2.5D先进封装是一种系统级集成技术,其核心是使用带有硅通孔和高密度布线层的 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-1-7 封装测试
  • [功率半导体生态圈] 热循环过程中 IGBT 模块封装退化研究
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/FGS_F3MBpZURsL1psVIBQQ 关注公众号,点击公众号主页右上角“ · · · ”,设置星标,实时关注功率半导体生态圈最新资讯
    00 zyadmin 发表于 2026-1-6 封装测试
  • [半导体工程师萧威] 一样是硬盘,企业级为啥是“跑车价”?贵10倍的玄机,藏在这几个地方。
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/wjMX9d1RCmZNqGmd6pImfg 一样是硬盘,企业级为啥是“跑车价”?贵10倍的玄机,藏在这几个地方。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-6 封装测试
  • [Jeff的芯片世界] SIP中的植球工艺介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/gh00vg9zLnGFNDBt2UfWWA SIP中的植球工艺介绍
    00 zyadmin 发表于 2026-1-6 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 先进封装技术介绍——FO-EB(Fan-Out Embedded Bridge,扇出型嵌入式桥接)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/9MeOz3i-5MHAw_UX9MSZBQ 先进封装技术介绍——FO-EB(Fan-Out Embedded Bridge,扇出型嵌入式桥接) 一,FO-EB(Fan-Out Embedded Bridge,扇出型嵌入式桥接)定义: FO-E
    00 zyadmin 发表于 2026-1-6 封装测试
  • [中南微电人] 芯耀麓谷 · 领跑封装未来 —— 解密长沙安牧泉智能科技有限公司
    芯耀麓谷 · 领跑封装未来 —— 解密长沙安牧泉智能科技有限公司 https://mp.weixin.qq.com/s/zbhNJkX2SNjPrO7n9iB-LA
    00 zyadmin 发表于 2026-1-5 封装测试
  • [半导体行业前沿] CoWoS封装是延续摩尔定律的主流方案
    CoWoS封装是延续摩尔定律的主流方案 https://mp.weixin.qq.com/s/F-H74qU6nJ_yCdcLt1hJ9Q 摘要:由于半导体行业体系庞大,理论知识繁杂,我们将通过多个期次和专题进行全面整理讲解。
    00 zyadmin 发表于 2026-1-5 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 先进封装工艺介绍—— I-Cube(硅中介层立方体封装技术)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/tryN6tmlbK7vODacfb-ArA 先进封装工艺介绍—— I-Cube(硅中介层立方体封装技术) 一, I-Cube(硅中介层立方体封装技术)的定义: I-Cube(Interposer-Cube
    00 zyadmin 发表于 2026-1-5 封装测试
  • [晏小北] ROHM三代SiC MOSFET产品可靠性评估
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/GigV7Yp96AlDirx49GLvog ROHM三代SiC MOSFET产品可靠性评估 ROHM三代产品更窄的负栅压应用范围,使其在DGB应用中需格外注意。如果负栅偏绝对值大于4V,动态栅偏应力会使其Vth发生明显正向漂移 ...
    00 zyadmin 发表于 2026-1-4 封装测试
  • [锐芯闻] 计量与检测,在AI芯片先进封装中的价值与挑战
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/36oWDsmVf-J-yDt1QCmUtg 计量与检测,在AI芯片先进封装中的价值与挑战
    00 zyadmin 发表于 2026-1-4 封装测试
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