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封装测试 今日: 0|主题: 1053|排名: 18 

  • [锐芯闻] ​Dr. Wei Koh:先进封装技术的创新进展
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/b_ofpUKnD2mr6duYONF46A ​Dr. Wei Koh:先进封装技术的创新进展
    00 zyadmin 发表于 2025-8-16 封装测试
  • [锐芯闻] ​​CoWoP:颠覆性先进封装技术图文解析
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/ZIBOWIErtS4LuHzVTLTE3g ​​CoWoP:颠覆性先进封装技术图文解析
    00 zyadmin 发表于 2025-8-15 封装测试
  • [锐芯闻] 2025Q1半导体/封装行业最新信息报告
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/7lmsT-x2eeuTMHxAAiB9oQ 2025Q1半导体/封装行业最新信息报告
    00 zyadmin 发表于 2025-8-14 封装测试
  • [每天学点半导体] 半导体制造技术导论2.3-封装测试
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/AJue8l2cQryA2ROl1_LCjw 1、晶粒测试:早期,晶粒测试需要操作员利用光学显微镜,通过手动的方式将测试仪器上的细微探针小心地接触到晶圆的每
    00 zyadmin 发表于 2025-8-13 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 封装时域和频域仿真介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/K8jvSJ90EYCbzio_nxUhbQ 封装时域和频域仿真介绍
    00 zyadmin 发表于 2025-8-11 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 芯片测试探针印管控介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/B67r5HF3v8irA9nWF8nj8Q 芯片测试探针印管控介绍
    00 zyadmin 发表于 2025-8-10 封装测试
  • [芯域前沿] 混合键合(Hybrid Bonding)技术简介
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/kTP3HkCqyH6vPNvyNISBCw 混合键合(Hybrid Bonding)技术简介 一粒微尘足以毁掉价值百万的晶圆,而混合键合技术正在挑战这一极限。
    00 zyadmin 发表于 2025-8-10 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 锡膏介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/1F9Y7wx_v79SzIjNj7MbXA 锡膏介绍
    00 zyadmin 发表于 2025-8-8 封装测试
  • [元器件封装测试之友] Package singulation Saw 成品切割简单介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/K52IHoLXcqXnlDtxuG8HGw Package singulation Saw 成品切割简单介绍
    00 zyadmin 发表于 2025-8-7 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 产品信号完整性介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/2NnwhcpQMmcshSApGrLqvw 产品信号完整性介绍
    00 zyadmin 发表于 2025-8-6 封装测试
  • [元器件封装测试之友] Plasma cleaning introduction
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/EGhHcPOEZ0l9Ifoar7i8Yg Plasma cleaning introduction
    00 zyadmin 发表于 2025-8-5 封装测试
  • [半导体先进技术与仿真] 先进封装技术(Semiconductor Advanced Packaging) - 33 半导体封装中的翘曲管理与有限元分析
    先进封装技术(Semiconductor Advanced Packaging) - 33 半导体封装中的翘曲管理与有限元分析 https://mp.weixin.qq.com/s/DDbYXa1ccb_je3cblhNViw 本文系统阐述翘曲根本成因(热失配、化学收缩、湿气膨胀)及其引发的制造与可靠性挑战(焊点失效、介电层开裂、对位偏差) ...
    00 zyadmin 发表于 2025-8-4 封装测试
  • [芯域前沿] 攻克“空洞”顽疾:高深宽比TSV电镀铜填充技术揭秘
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/KfPxn1v6l0OylCQchzWz4A 攻克“空洞”顽疾:高深宽比TSV电镀铜填充技术揭秘 在纳米级的舞台上,每一个铜原子的落位都决定着万亿级芯片帝国的命运。而这场无声的战役,仍在继续。 ...
    00 zyadmin 发表于 2025-8-4 封装测试
  • [元器件封装测试之友] EMC(Epoxy Molding Compound)环氧塑封料介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/zmVs-7wUclZeBwPskfEHfA EMC(Epoxy Molding Compound)环氧塑封料介绍
    00 zyadmin 发表于 2025-8-4 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 弹坑实验简单介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/3hXj8qzVtE81eSCHG_lnPg 弹坑实验简单介绍
    00 zyadmin 发表于 2025-8-1 封装测试
  • [ChipNote芯笔记] 【半导体工艺】TSMC 2nm工艺与先进封装
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/R9pEUNbqX6hrjP40p2jBFg 【半导体工艺】TSMC 2nm工艺与先进封装 TSMC 2nm N2工艺所结合的先进封装技术从TSMC发布的2nm N2工艺宣传资料来看,确实令人惊叹。
    00 zyadmin 发表于 2025-8-1 封装测试
  • [元器件封装测试之友] IMC(Intermetallic Compound)金属间化合物介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/4Z6-qRTXtbqLrv-BOFAcaA IMC(Intermetallic Compound)金属间化合物介绍
    00 zyadmin 发表于 2025-7-31 封装测试
  • [芯域前沿] 芯片开关背后的神秘闸门:Gate是如何控制芯片通断的?
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/QfBecHbfP--owC_EiaA3yQ 芯片开关背后的神秘闸门:Gate是如何控制芯片通断的? 一根头发丝的横截面上,可容纳上千个Gate栅极协同工作,却仅消耗点亮一粒沙所需的能量。
    00 zyadmin 发表于 2025-7-31 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 锡球介绍(solder ball)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/mgTUCHfn_X1jyIY56EgTrw 锡球介绍(solder ball)
    00 zyadmin 发表于 2025-7-30 封装测试
  • [元器件封装测试之友] DAF胶膜介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/T3fDxXJlXosMbI50Q4RMag DAF胶膜介绍
    00 zyadmin 发表于 2025-7-29 封装测试
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