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封装测试 今日: 0|主题: 1053|排名: 18 

  • [锐芯闻] 面板级封装(PLP)2025年技术、市场和供应链全览
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/sodw4hUVSa_R5MkaJD2I7w 面板级封装(PLP)2025年技术、市场和供应链全览
    00 zyadmin 发表于 2025-7-29 封装测试
  • [半导体先进技术与仿真] 先进封装技术(Semiconductor Advanced Packaging) - 32 多芯粒排列的TGV中介层应力仿真
    先进封装技术(Semiconductor Advanced Packaging) - 32 多芯粒排列的TGV中介层应力仿真 https://mp.weixin.qq.com/s/tZcLhVK7tYILYbjX2yiD-g 在本CASE中,通过基于FEA的面向工艺应力模拟和子模型技术,研究了集成多芯片粒排列的玻璃中介层的综合应力影响。 ...
    00 zyadmin 发表于 2025-7-28 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 塑封料供应商介绍&材料名词介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/p3Nj9eAePd_maAHnNht-aA 塑封料供应商介绍&材料名词介绍
    00 zyadmin 发表于 2025-7-27 封装测试
  • [锐芯闻] 电源模块封装行业2025年现状
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/HGoWXk-FW2hMikMn89lWCQ 电源模块封装行业2025年现状
    00 zyadmin 发表于 2025-7-21 封装测试
  • [半导体先进技术与仿真] 先进封装技术(Semiconductor Advanced Packaging) - 31 CoWoS 封装可靠性风险评估
    先进封装技术(Semiconductor Advanced Packaging) - 31 CoWoS 封装可靠性风险评估 https://mp.weixin.qq.com/s/D_yVV-c3pqip1sgq9EjLqw 随着先进封装变得更加复杂且开发周期缩短,理解可靠性问题对于开发下一代 CoWoS 技术变得越来越重要
    00 zyadmin 发表于 2025-7-21 封装测试
  • [芯域前沿] 芯片堆叠革命:Chiplet与3D封装如何拯救摩尔定律?
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/O4vXTWgKsHoRna3ugwd4fw 芯片堆叠革命:Chiplet与3D封装如何拯救摩尔定律? 一片晶圆上,25颗芯片紧密相连,算力暴增5倍,马斯克的Grok 4超级AI模型由此诞生。
    00 zyadmin 发表于 2025-7-21 封装测试
  • [锐芯闻] 最新报告:​​CPO(共封装光学)与Foundry生态系加速硅光子芯片产业化​
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/fOV6yvBJLZ1LLhOY7ZozdQ 最新报告:​​CPO(共封装光学)与Foundry生态系加速硅光子芯片产业化​ 关注我们以后就可以常见面啦!
    00 zyadmin 发表于 2025-7-19 封装测试
  • [ChipNote芯笔记] 【Besi】世界混合键合设备诞生Wafer to wafer Hybrid Bonding Machine 英伟达下游靠它
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/stCfKt1TTujqya-AICRWWA 【Besi】世界混合键合设备诞生Wafer to wafer Hybrid Bonding Machine 英伟达下游靠它 【Besi】世界混合键合设备诞生Wafer to wafer Hybrid Bonding Machine
    00 zyadmin 发表于 2025-7-19 封装测试
  • [锐芯闻] Digitimes报告:2026年全球(类)CoWoS先进封装市场展望
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/kz0tDpuDYPBcPSmJpTaKVw Digitimes报告:2026年全球(类)CoWoS先进封装市场展望
    00 zyadmin 发表于 2025-7-15 封装测试
  • [芯域前沿] 晶圆上的“体检”与“手术”:5000字长文揭秘芯片测试不为人知的故事
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/KV0GrcLtTGBL4Jb_2gXOrQ 晶圆上的“体检”与“手术”:5000字长文揭秘芯片测试不为人知的故事 一片闪耀着金属光泽的硅晶圆上,数百个指甲盖大小的芯片静静排列,等待着决定命运的测试。 ...
    00 zyadmin 发表于 2025-7-13 封装测试
  • [国产碳化硅] 一文看懂:TO247 内绝缘封装优势,高效能应用的关键所在
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/yZV4M5E27P296ZGF6naWlA 一文看懂:TO247 内绝缘封装优势,高效能应用的关键所在 一文看懂:TO247 内绝缘封装优势,高效能应用的关键所在
    00 zyadmin 发表于 2025-7-8 封装测试
  • [半导体先进技术与仿真] 先进封装技术(Semiconductor Advanced Packaging) - 30 先进封装中的故障隔离与失效分析
    先进封装技术(Semiconductor Advanced Packaging) - 30 先进封装中的故障隔离与失效分析 https://mp.weixin.qq.com/s/jRNpGGWgWaYlyAg-ztGo-w 本文全面综述了先进封装技术(包括2.5D和3D封装)中故障隔离(FI)与失效分析(FA)技术所面临的挑战。此外,还重点介绍了人工智能(AI)辅助的FI和FA方法当前的能力和未来发展 ...
    00 zyadmin 发表于 2025-7-7 封装测试
  • [锐芯闻] 全球半导体测试探针行业市场研究报告(2024-2028)
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/vIMyxfLf2LhjQsgrAwnahw 全球半导体测试探针行业市场研究报告(2024-2028)
    00 zyadmin 发表于 2025-7-7 封装测试
  • [元器件封装测试之友] Flip Chip
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/m8nLyf5rDE7PGroYvlmH1A Flip Chip
    00 zyadmin 发表于 2025-7-6 封装测试
  • [元器件封装测试之友] 填充工艺应用:CUF/MUF/NUF/WLUF/NCP/NCF/NUF
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/zEryDVl5AZ-FxX8-z4uDSA 填充工艺应用:CUF/MUF/NUF/WLUF/NCP/NCF/NUF
    00 zyadmin 发表于 2025-7-5 封装测试
  • [锐芯闻] Yole报告:2024年高端性能封装市场和技术报告
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/rXufjkiFzN3nZ4Xs4e8BYg Yole报告:2024年高端性能封装市场和技术报告 关注我们以后就可以常见面啦!
    00 zyadmin 发表于 2025-7-5 封装测试
  • [元器件封装测试之友] AIAG 与VDA6.3简单介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/Mn-o8_dvDqSIUdaqPMBXEQ AIAG 与VDA6.3简单介绍
    00 zyadmin 发表于 2025-7-1 封装测试
  • [芯域前沿] 七日芯闻:美台积电封装困局!台当局出口管制中芯、华为!
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/xDx8uMapCyz1YmEEi3jqQA 七日芯闻:美台积电封装困局!台当局出口管制中芯、华为! 一片4纳米晶圆从美国凤凰城飞往中国台湾的“封装之旅”,揭开了全球半导体产业最脆弱的伤疤。 ...
    00 zyadmin 发表于 2025-6-30 封装测试
  • [元器件封装测试之友] Flip Chip 不良分析思路
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/P-Njna2XiK49biSlS2hqrg Flip Chip 不良分析思路 倒装芯片(Flip-Chip)是一种芯片封装技术。在这种技术中,芯片的有源面(即带有电路的一面)朝下,通过凸点与基板直接连接,而不是传统的引脚连接方式。 ...
    00 zyadmin 发表于 2025-6-29 封装测试
  • [元器件封装测试之友] Kappa 分析介绍
    微信公众号资讯文章精选: https://mp.weixin.qq.com/s/eA_x278w9aOsdqeWbXd85g Kappa 分析介绍
    00 zyadmin 发表于 2025-6-28 封装测试
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